便攜式鍍層測(cè)厚儀針對(duì)陶瓷金屬厚度分析

更新時(shí)間：2021-07-19

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　　便攜式鍍層測(cè)厚儀可測(cè)量不同形狀、不同厚度、不同位置、不同材料工件的涂鍍層厚度。運(yùn)用“鎖相環(huán)”技術(shù)，大大減少了工作環(huán)境溫度變化和干擾對(duì)儀器的影響，重復(fù)性也因此大幅度提升。現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的絕大多數(shù)工件無(wú)需校準(zhǔn)直接測(cè)量。為了配合不同尺寸、不同形狀的涂、鍍層工件，設(shè)計(jì)了不同型號(hào)的內(nèi)防腐探頭，以滿(mǎn)足不同用戶(hù)的一些特殊需求。

　　陶瓷-金屬化封接技術(shù)廣泛應(yīng)用于電子管、真空開(kāi)關(guān)管等真空電器中，其中關(guān)健的技術(shù)是陶瓷金屬化，金屬化質(zhì)量的好壞，取決于陶瓷自身的質(zhì)量外，其金屬化工藝、金屬化的厚度及其均勻度，電鍍鎳或燒結(jié)鎳厚度和致密度，也是保證金屬化質(zhì)量的關(guān)鍵因素。

　　前期陶瓷金屬化層、鎳層厚度的測(cè)量均采用抽樣破壞性的測(cè)量，且測(cè)量方法粗陋，從而業(yè)內(nèi)同行急盼快速、無(wú)損測(cè)厚儀器，便攜式鍍層測(cè)厚儀無(wú)損金屬化瓷件厚度儀的出現(xiàn)，是陶瓷-金屬化封接技術(shù)的保障和提升，也是它堅(jiān)強(qiáng)的后盾。

　　便攜式鍍層測(cè)厚儀屬于對(duì)比分析儀器，測(cè)試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標(biāo)樣，雖然有FP法的測(cè)試軟件，但在準(zhǔn)確的測(cè)試中，一定需要標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校對(duì)，因此，企業(yè)應(yīng)用中采用標(biāo)樣校對(duì)的方法是常見(jiàn)的。

　　針對(duì)不同的鍍層測(cè)試對(duì)象，可選擇不同結(jié)構(gòu)的分析儀器。例如上照射和下照射的設(shè)備；探測(cè)器分為正比計(jì)數(shù)器和半導(dǎo)體探測(cè)器的等，它們都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)。

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